膜厚测试仪

极高性价比,操作简单方便. 40X,100X,400X,600X,1000X.
可选倒置式,三目输出,配备CCD.
Lenovo电脑,17''液晶显示器.
软件测量各种数据,包括点与点距离,角度,面积,平行线距离等.
金相测量软件
中,英文菜单
支持WIN98,WIN ME,WIN 2000,WIN XP.
简单易用. 可测量各种数据,包括点与点距离,
角度,面积,平行线距离等.
分辨率:0.1um
可将图片保存至磁盘或光盘
可在图片上添加各种文字或附号
测量结果直接显示在图片上.
可配合任何三目显微镜使用

显微硬度计

此仪器在光、机、电一体化的工作原理上采用先进的精密稳定的技术设计,压头与物镜改成自动转换,定位精确到位,尤其是打表面涂层热处理的滲碳层淬火硬化层零件的深度测量起到定位准确无误,同时物镜观察材料金相组织成像更清晰

氦质普检漏仪

该型号系列检漏仪集快速、可靠、灵敏及易于操作为一身。适用于广大用户的不同种类的检漏要求。
该型号系列检漏仪是最新一型的便携式氦质谱检漏仪，它适用于各式各样的检漏模式及环境，是广大用户可以选择和信赖的理想产品。
从静止开始启动，2分钟之内就可以开始工作。内部标准漏孔可以在任时候对仪器进行校正，使检漏更加可靠有效。最小可检到5×10-12mbar.I/S的漏率，让仪器的灵敏度又达到了一个新的高度。
允许用户在15mbar的高压强下开始检漏，为用户检大漏提供了方便。
该型号系列检漏仪是最新型的干式检漏仪，它不会给用户带来任何的油污染，适用于超净间及其他无油真空。
用户还可以根据自己的要求，或选择大抽速前级泵，或选择检测盒，来满足检大容器，或满足电子元气件检漏需要。
该型号系列检漏仪设计独特的吸枪和快速吸枪，可以使用户在吸氦模式检漏中不放过任何一个可疑漏点。

分光测试仪

光源/观测系统 d/8（散射光源，8度观测角），配有 SCI（包括镜面反射分量/SCE（不包括镜面反射分量）同步测量功能。（符合 CIE No.15、ISO 7724/1、ASTM E1164、DIN 5033 Teil7、 JIS Z8722 Condition c 标准。）
积分球大小 52mm
传感器 硅光电二极管阵列
光谱分离设备 衍射光栅
波长范围 360nm 到740nm
波长间距 10nm
光谱半带宽 约10nm
反射率范围 0到175%，显示分辨率：0.01%
光源 2个脉冲氙灯
测量时间 约 1.5 秒
最小测量间隔 3 秒（在23°C时）
电池性能 以 10 秒为间隔约 1000 次（使用碱性电池时）（在23°C时）
测量/照明区域 ?8mm/?11mm
重复性 光谱反射率: 标准偏差在 0.2% 以内（360 到380nm : 标准偏差在 0.4% 以内）
色别 : 标准偏差 E*ab 在 0.08 以内（在白板校正后以 10 秒为间隔测量 30 次白色校正板）
器间差 ΔΕ*ab 在 0.4 以内（SCI）（基于 12 BCRA Series II 色阶的平均值，比较对象为在23°C时通过主机身测得的值）
语言模式 英语/中文测量模式 单次/平均化（自动模式 : 1 到 8次/手动模式）
端口 符合RS-232C标准
观察者 2/10度
观察用光源 A、C、D50、D65、F2、F6、F7、F8、F10、F11、F12（使用两个光源可进行同步计算）
显示 光谱值/图表、色度值、色差值、“合格/不合格”结果、相对光泽度
色度空间/色度数据 L*a*b*、L*C*h、Yxy、XYZ、MI、 E*ab、CMC (1:1)、CMC(2:1)、CIE94、CIE DE2000、WI (ASTM E313)、YI (ASTM D1925)
可储存的数据组 1,700（每个数据组由一对 SCI/SCE 数据组成）
允拒收判定 色度允拒收值（只能设定一组允拒收值）电源 AA 电池（×4），AC 适配器
大小 69（宽) × 96（高）× 193（长）mm
重量 约 670g（包括“测量台”/不包括电池）
运行温度/湿度范围 5°C 到 40°C，相对湿度 80% 或更低（在 35°C 下）